島津 掃描型X射線熒光光譜儀 XRF-1800型
| 聯(lián)系人： | 陳經(jīng)理 |
|---|---|
| 手機： | 18934727310 |
| 座機： | 0771-5330368 / 5307368 |
| QQ： | 3001673956 / 3001664790 / 3001645900 / 3001641208 |
| 網(wǎng)站： | www.kamertabela.com |
| 地址： | 中國（廣西）自由貿(mào)易試驗區(qū)南寧片區(qū)云英路8號五象總部大廈B座6樓 |
| 留言咨詢 更多信息 | |
| 分享： |
|
產(chǎn)品介紹
XRF-1800型
250μm微區(qū)分布成像分析功能！
XRF-1500/1700系列X射線熒光光譜儀是在首先開發(fā)出微區(qū)分析/分布分析功能，采用了4KW薄窗X射線管，擴大了X射線熒光分析的應用領域，作為具有革命性的儀器而得到了很高評價，業(yè)已銷售200余臺。
掃描型X射線熒光光譜儀 XRF-1800型從儀器的硬件與軟件在許多細節(jié)都進行了改進，使得儀器的可靠性與可操作性更進一步提高，增加了250μm微區(qū)分布成像分析功能，從而達到更高水平的程度。作為高靈敏度和微區(qū)分析的開拓者，島津公司非常自信地向用戶奉獻出XRF-1800型X射線熒光光譜儀。
· 在波長色散型裝置中，250μm微區(qū)分布成像分析功能（已取得專利）可分析不均勻樣品的含量分布、強度分布。
· 利用高次譜線進行準確的定性/定量分析（專利申請中）
高次譜線的判定更加準確，提高了定性定量分析的準確度/可靠性。
· 測定高分子薄膜的膜厚與無機成分分析的背景基本參數(shù)(BG-FP)法
利用康普頓散射/瑞利散射的強度比計算出熒光X射線分析不能得到的氫（H）元 素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普頓散射線的理論強度作為高分子薄膜 的信息。
· 微區(qū)分析結構
獨自開發(fā)的特殊形狀的滑動式視野限制光欄，利用r方向滑動與樣品旋轉(zhuǎn)控制的q轉(zhuǎn)動，可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進行分析。· 利用CCD相機可以直接觀察樣品（選配件）
在測定室導入樣品的位置上，將樣品容器按照與測定位置相同的方式放置，通過CCD攝取樣品的圖像，可使測定位置與圖像相吻合。
（專利申請中）· 配備高可靠性、長壽命的4kW薄窗Ｘ射線管
配備平均壽命在5年以上的高可靠性Ｘ射線管。與傳統(tǒng)的3kWＸ射線管相比，輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。· 集成島津技能精華的模塊功能,匹配分析功能
對應于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品具有相應的分析條件，在這基礎上可編制的分析條件?？筛鶕?jù)不同材質(zhì)
判定、品種分類、品種判定、一致性檢索這4種匹配功能進行判定、檢索。※如有外觀及規(guī)格變動，恕不另行通知。
